應用領域

1、熱電材料，超導材料，燃料電池，導電陶瓷以及半導體材料的均勻度測量

2、測量功能梯度材料的梯度

3、觀察功能梯度材料的梯度效應

4、監測 NTC/PTC 材料的電阻漂移

5、導電固體中的傳導損耗

6、陰極材料的電導率損耗

7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化

8、樣品的質量監控

主要技術參數

  測量結果重復性：    優于3%
  誤差
  塞貝克系數：          < 3% (半導體)
                               < 5% (金屬)
  電導率：                < 5% (半導體)
                               < 8% (金屬)
  測量速度：            測量一個點的時間小于4秒

  技術由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發，點擊資料下載按鈕下載說明手冊。